Título: Difracción de rayos-X
Descripción: Salas Vicente, Fidel;
El video presenta una introducción a la técnica de difracción de rayos-x, explicando sus fundamentos.
Incluye un ejemplo de aplicación para el estudio de las estructuras cristalinas y una parte final extra en la que se aclaran algunas dudas que podrían surgir.
hdl.handle.net/10251/194083
Descripción automática: En este video se explica la técnica de difracción de rayos X para estudiar la estructura cristalina de los materiales. La técnica se fundamenta en la ley de Bragg, la cual describe cómo los rayos X al incidir en un material y afectar sus planos cristalinos pueden ser detectados al estar en fase y producir picos en un difractograma. Se ilustra cómo el ángulo de incidencia y la distancia entre planos atómicos determinan estas condiciones.
Los resultados obtenidos a partir de esta técnica son representados en un difractograma que muestra diferentes picos, cada uno asociado a un plano cristalino específico. Se discute por qué algunos planos no dan lugar a picos en el difractograma debido a condiciones estructurales, como la suma par o impar de los índices de Miller para estructuras cristalinas comunes como cúbicas centradas y cúbicas centradas en las caras.
Además, se ofrece un ejemplo práctico que demuestra cómo se puede calcular la distancia entre planos y el parámetro de red de la celda cristalina a partir de la información proporcionada por el difractograma y la ley de Bragg. Al final, se aclara por qué se habla de difracción y no de reflexión y se menciona una solución práctica para el problema de detectar planos cristalinos no paralelos a la superficie mediante el uso de muestras de polvo y la rotación de la muestra durante el ensayo.
Autor/a: Salas Vicente Fidel
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